合金分析儀器可以使用低功率X射線管分析合金元素。發(fā)射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測(cè)量時(shí)需要使分析儀接近樣品。理想的是使樣品進(jìn)行直接通過(guò)接觸測(cè)量窗。如果樣品具有復(fù)雜的幾何形狀，則難以檢查，但合金分析儀的主體較窄，可以盡量接近斜面樣品。
合金分析儀器使用術(shù)語(yǔ)：
1.計(jì)數(shù)速度：由探測(cè)器測(cè)量到的特定能量X射線數(shù)量，一般情況下采用每秒計(jì)數(shù)表示。
2.2位西格馬誤差：統(tǒng)計(jì)學(xué)術(shù)語(yǔ)，表示對(duì)結(jié)果的確定程度。2位西格馬誤差表示儀器有95%的把握，即實(shí)際數(shù)值與測(cè)量數(shù)值之差不超過(guò)該數(shù)值。類似的，1位西格馬誤差表示儀器有68%的把握，即實(shí)際數(shù)值與測(cè)量數(shù)值之差不超過(guò)該數(shù)值。3位西格馬誤差表示儀器有99%的把握，即實(shí)際數(shù)值與測(cè)量數(shù)值之差不超過(guò)該數(shù)值。
3.MDL（方法探測(cè)極限）：為在運(yùn)行典型樣品時(shí)獲取的典型探測(cè)極限，由復(fù)合物決定，因此不同復(fù)合物的MDL有所不同。
4.L0Q（量化極限）：為能夠可靠測(cè)量實(shí)現(xiàn)定量讀數(shù)的低濃度。
5.LOD（探測(cè)極限）：為樣品中被分析物能夠可靠的與零濃度區(qū)分的濃度。定義99%的可靠度顯示被分析物的濃度超過(guò)零，這表示需要使用3位西格馬計(jì)算確定LOD。
6.IDL（儀器探測(cè)極限）：為儀器在清潔的復(fù)合物（毛坯）中的探測(cè)極限。
合金分析儀器可以定量分析周期表中90％以上的元素，從鎂到更重的元素。這些可測(cè)定的元素覆蓋了我們中國(guó)商用發(fā)展以及合金中使用的大部分學(xué)生文化傳統(tǒng)元素。這種分析儀方法的檢查技術(shù)能力，基于學(xué)生獲取材料主要成分的信息，可以獲得鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、多管和法蘭材料，很多企業(yè)基于這些合金、青銅合金、各種社會(huì)其他一些銅合金、焊錫、鈦合金、工具鋼、鎳、鈷元素都可以進(jìn)行搭配不同品牌。
